- 产品详情
Ossila四点探针台
型号：T2001A3
这款四点探针系统是一款易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻 率和电导率。 通过使用我们自己的源测量单元，我们能够创建一个低成本的系 统，使测量范围更广泛。 探头采用弹簧加载接触，而不是尖锐的针头，防止损 坏精密样品，如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。
四点探针系统为您的研究提供以下益处：
• 广泛的薄膜电阻测量范围，从 10mΩ/□到 10MΩ/□
• 弹簧加载的探针保护易损的样品免受损坏
• 体积小巧，可用于空间有限的繁忙实验室
• 易操作的 PC 软件，用于薄膜电阻，电阻率和电导率的测量
• 使用自动校正因子计算加快材料表征
• 使用保存设置可轻松重复测量
测量规格
电压范围 100μV至10 V
当前范围 10 nA到100 mA
薄层电阻范围 10mΩ/□至10MΩ/□
测量精度 < ±4%
测量精度 ±0.5%
物理规格
探针间距 1.27毫米
矩形样本大小范围 长边最小值：4毫米
短边最大值：60毫米
圆形样品尺寸范围（直径） 4毫米到76.2毫米
最大样品厚度 5毫米
总体尺寸 宽度：120毫米 高度：100毫米 深度：300毫米
软件要求
支持的操作系统 Windows Vista,7,8和10（64位）
最小显示器分辨率 1440 x 900
建议的监视器分辨 1920 x 1080
所需的硬盘空间 400 MB