MYCRO  TECHNOLOGIES

【产品详情】

此Mag*I*Cal TEM校准标样被称为目前极微小的尺子。通过一个标样可同时实现以下的应用：

1) 放大倍率的校准

2) 相机常数的标定

3) 成像－衍射花样倾转校正

此透射电镜校准标样是采用离子减薄方式制备的由Si和SiGe构成的多层单晶体，通过分子束外延(MBE)法生长，以硅的(111)面晶格间距作为单晶硅衬底上的测量依据，准确地测量标样厚度和层间距，从而可以在1,000x到1,000,000x全范围内进行放大倍率的校准。

由于标样本身是一个单晶体，它也能用于相机常数的标定，以及成像－衍射花样倾转校正。

此标样附带一份产品证书。